Gatan EELS October 2020 School

Gatan EELS Virtual School ، 19 تا 23 اکتبر.

میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) جزئیات ساختارهای طبیعی و ساخته شده توسط بشر را در مقیاس میکرومتر ، نانومتر و حتی زیر نانومتر نشان می دهد. TEM فیلترشده با انرژی (EFTEM) و طیف سنجی اتلاف انرژی الکترون (EELS) شرکای تحلیلی ایده آل برای تفکیک فضایی بالا هستند که توسط TEM در دو حالت تصویربرداری معمولی و اسکن شده (STEM) ارائه می شوند.

این دوره نظریه و عمل اساسی تصویربرداری و تجزیه و تحلیل EELS را در TEM بررسی می کند ، اما تأکید اصلی آن بر روی تکنیک های عملی ، استقرار بهینه سیستم های سخت افزاری و نرم افزاری گاتان و برنامه های پیشرفته EELS و EFTEM است. برخی از تجربه های قبلی با سیستم های EELS ، EFTEM و Gatan توصیه می شود ، همچنین آشنایی کافی با ابزار دقیق و روش های TEM / STEM است. در پایان دوره ، شرکت کنندگان می توانند بدانند که چگونه می توانند عملکرد سخت افزار Gatan EELS و همچنین تنظیمات آزمایشی EELS و EFTEM خود را برای به دست آوردن و استخراج حداکثر اطلاعات از نمونه های TEM بهینه کنند.

مباحث

اصول EELS و تصویربرداری فیلتر شده با انرژی در TEM

اصول عملکرد سیستم های Gatan EFTEM و EELS

بهینه سازی اکتساب داده های EFTEM و EELS

کمیت ترکیب اصلی

سایر اطلاعات ارائه شده توسط EFTEM / EELS و نحوه استخراج بهتر آن

استفاده از سیگنال های EELS برای تشکیل نقشه هایی از ترکیبات اولیه و شیمیایی

تکنیک های تصویربرداری از طیف EFTEM و STEM EELS

شناسایی مراحل مواد از طریق نقشه برداری ساختار ریز EELS

کاربردها در نمونه های علوم زیستی و فیزیکی